استخدام معادلة شيرر لحساب الحجم البلوري من بيانات حيود الأشعة السينية للسمنت

تُعد تقنية حيود الأشعة السينية (XRD) أحد الركائز الأساسية والحيوية في دراسة خواص المواد البلورية. تمتد تطبيقات (XRD) على نطاق واسع في الدراسات الجيولوجية وأبحاث السمنت، بالأخص التحري عن نسبة وجود المعادن في الصخور والترسبات. يعد الحجم البلوري من العوامل التي تؤثر على الخواص الفيزيائية. تم استخدام جهاز(XRD)  لتحليل عينات من السمنت العادي والسمنت المقاوم للكبريتات وتحديد الأطوار المعدنية وتحليل الحجم البلوري باستخدام معادلة شيرر (L= (K*λ)/β*Cosθ). تتيح هذه المعادلة حساب حجم البلورات بدقة عالية باستخدام بيانات (XRD) مما يسمح بفهم أعمق للتركيب الداخلي للمواد، توضح الدراسة أن حجم بلورات السمنت المقاوم هو أكبر بشكل ملحوظ من حجم بلورات السمنت العادي، ويُعزى ذلك إلى التبريد البطيء الذي يؤدي إلى تكوين بلورات خشنة بسبب تحول سليكات ثلاثي الكالسيوم (C3S) إلى سليكات ثنائي الكالسيوم (C2S) أو سوء التخزين او تكوين الكلس الحر مما يؤثر على المعالجات الحرارية المختلفة. يمكن معالجة الحجم البلوري من خلال التحكم في معامل الاشباع الكلسي (LSF) وجودة المواد الخام والتحكم في درجة حرارة الفرن. تعد هذه الدراسة خطوة حاسمة نحو تحسين جودة السمنت من خلال التحكم في ظروف التصنيع ومراقبة الحجم البلوري بدقة بما يحقق التوازن بين القوة والاستقرار الحراري. تؤكد النتائج أهمية استخدام معادلة شيرر كأداة لا غنى عنها في تحليل الحجم البلوري للمواد الصلبة، وخاصة في صناعة السمنت.